品牌 | LNEYA/无锡冠亚 | 产地类别 | 国产 |
---|---|---|---|
应用领域 | 石油,能源,电子,汽车,电气 |
适合元器件测试用设备
在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中,IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度(-85℃至+ 250℃)下的电子冷热测试和其他环境测试模拟。
无锡冠亚积探索和研究元件测试系统,主要用于半导体测试中的温度测试模拟,具有宽温度定向和高温升降,温度范围-92℃~250℃,适合各种测试要求,解决了电子元器件中温度控制滞后的问题,超高温冷却技术可以直接从300℃冷却。
型号 | KRY-455 KRY-455W | KRY-475 KRY-475W | KRY-4A10 KRY-4A10W | KRY-4A15 KRY-4A15W | KRY-4A25 KRY-4A25W | KRY-4A38W | KRY-4A60W | |
温度范围 | -40℃~+100℃ | |||||||
控温精度 | ±0.5℃ | |||||||
温度反馈 | Pt100 | |||||||
温度显示 | 0.01k | |||||||
流量输出 | 1~10L/min | 1~25L/min | 1~25L/min | 1~40L/min | 1~40L/min | 5~50L/min | 5~50L/min | |
关于流量说明 | / | 当温度低于-30度时,大流量为25L/min | 当温度低于-30度时,大流量为30L/min | |||||
流量控制精度 | ±0.2L/min | ±0.2L/min | ±0.2L/min | ±0.2L/min | ±0.2L/min | ±0.2L/min | ±0.2L/min | |
压力显示 | 采用江森自控压力传感器,触摸屏上显示压力,可进行压力控制调节 | |||||||
加热功率 | 5.5kW | 7.5kW | 10kW | 10kW 选配15kW | 15kW 选配25kW | 25kW 选配38kW | 38kW 选配60kW | |
制冷量 | 100℃ | 5.5kW | 7.5kW | 10kW | 15kW | 25kW | 38kW | 60kW |
20℃ | 5.5kW | 7.5kW | 10kW | 15kW | 25kW | 38kW | 60kW | |
0℃ | 5.5kW | 7.5kW | 10kW | 15kW | 25kW | 38kW | 60kW | |
-20℃ | 2.8kW | 4.5kW | 6kW | 10kW | 16kW | 25kW | 35kW | |
-35℃ | 1.2kW | 1.8kW | 2.5kW | 4kW | 6.5kW | 10kW | 15kW | |
压缩机 | 艾默生谷轮涡旋柔性压缩机 | |||||||
膨胀阀 | 艾默生/丹佛斯热力膨胀阀 | |||||||
油分离器 | 艾默生 | |||||||
干燥过滤器 | 艾默生/丹佛斯 | |||||||
蒸发器 | 丹佛斯/高力板式换热器 | |||||||
输入、显示 | 7寸彩色触摸屏西门子S7-1200 PLC控制器 | |||||||
程序编辑 | 可编制10条程序,每条程序可编制40段步骤 | |||||||
通信 | CAN通信总线 | |||||||
安全保护 | 具有自我诊断功能;冷冻机过载保护;高压压力开关,过载继电器、热保护装置、低液位保护、高温保护、传感器故障保护等多种安全保障功能 | |||||||
是否为全密闭系统 | 整个系统为全密闭系统,高温时不会有油雾、低温不吸收空气中水份,系统在运行中不会因为高温使压力上升,低温自动补充导热介质。 | |||||||
制冷剂 | R404A/R507C | |||||||
接口尺寸 | G3/4 | G3/4 | G3/4 | G3/4 | G3/4 | G3/4 | G3/4 | |
水冷型at25度 | 1100L/H | 1500L/H | 2000L/H | 2800L/H | 4500L/H | 7000L/H | 12000L/H | |
水冷冷凝器 | 帕丽斯/沈氏套管式换热器 | |||||||
风冷型冷凝器 | 铜管铝翅片换热器(上出风形式) | |||||||
电源 380V50HZ | 12kW max | 15kW max | 20kW max | 29kW max | 42kW max | 58kW max | 84kW max | |
水冷尺寸cm | 55*95*175 | 55*95*175 | 55*95*175 | 70*100*175 | 80*120*185 | 100*150*185 | 145*205*205 | |
风冷尺寸cm | 55*95*175 | 55*95*175 | 70*100*175 | 80*120*185 | 100*150*185 | |||
重量 | 250kg | 280kg | 320kg | 360kg | 620kg | 890kg | 1300kg | |
选配 | 220V 60HZ三相 400V 50HZ三相 440V 60HZ三相 | |||||||
选配 | 温度扩展到-40℃~+135℃ | |||||||
选配 | 更高精度控制温度、流量、压力 | |||||||
选配 | 自动加注防冻液系统 | |||||||
选配 | 自动液体回收系统 |
半导体芯片材料Chiller,高低温测试机
半导体芯片材料Chiller,高低温测试机
晶圆测试阶段的测试程序即为制程管控程序,将开发完成的管控程序录入机台对晶圆进行测试,成品测试阶段的测试程序是基于芯片功能测试而开发的,通常是对芯片进行程序烧录后作功能测试。测试方案开发,是基于不同的测试类型、芯片种类等对测试机台的搭配,以达到测试效率的提升,如晶圆测试是将探针台与测试机搭配,能够实现并优化对不同尺寸及制程工艺的晶圆进行测试,而成品测试则是将分选机与测试机进行搭配。