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半导体温度测试系统Chiller,测试

简要描述:半导体温度测试系统Chiller,测试的典型应用:
适合元器件测试用设备,在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中,IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度(-85℃至+ 250℃)下的电子冷热测试和其他环境测试模拟。

  • 产品型号:TES-4555
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-01-01
  • 访  问  量:919
详情介绍
品牌LNEYA/无锡冠亚产地类别国产
应用领域石油,能源,电子,汽车,电气

 

元器件测试用设备

 

适合元器件测试用设备

在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中,IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度(-85℃至+ 250℃)下的电子冷热测试和其他环境测试模拟。

 

 

型号KRY-455
KRY-455W
KRY-475
KRY-475W
KRY-4A10
KRY-4A10W
KRY-4A15
KRY-4A15W
KRY-4A25
KRY-4A25W
KRY-4A38WKRY-4A60W
温度范围-40℃~+100℃
控温精度±0.5℃
温度反馈Pt100
温度显示0.01k
流量输出1~10L/min1~25L/min1~25L/min1~40L/min1~40L/min5~50L/min5~50L/min
关于流量说明/当温度低于-30度时,大流量为25L/min当温度低于-30度时,大流量为30L/min
流量控制精度±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min±0.2L/min
压力显示采用江森自控压力传感器,触摸屏上显示压力,可进行压力控制调节 
加热功率5.5kW7.5kW10kW10kW
选配15kW
15kW
选配25kW
25kW
选配38kW
38kW
选配60kW
制冷量100℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
20℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
0℃5.5kW7.5kW10kW15kW25kW38kW60kW
-20℃2.8kW4.5kW6kW10kW16kW25kW35kW
-35℃1.2kW1.8kW2.5kW4kW6.5kW10kW15kW
压缩机艾默生谷轮涡旋柔性压缩机
膨胀阀艾默生/丹佛斯热力膨胀阀
油分离器艾默生
干燥过滤器艾默生/丹佛斯
蒸发器丹佛斯/高力板式换热器
输入、显示7寸彩色触摸屏西门子S7-1200 PLC控制器
程序编辑可编制10条程序,每条程序可编制40段步骤
通信CAN通信总线
安全保护具有自我诊断功能;冷冻机过载保护;高压压力开关,过载继电器、热保护装置、低液位保护、高温保护、传感器故障保护等多种安全保障功能
是否为全密闭系统整个系统为全密闭系统,高温时不会有油雾、低温不吸收空气中水份,系统在运行中不会因为高温使压力上升,低温自动补充导热介质。
制冷剂R404A/R507C
接口尺寸G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4G3/4
水冷型at25度1100L/H1500L/H2000L/H2800L/H4500L/H7000L/H12000L/H
水冷冷凝器帕丽斯/沈氏套管式换热器
风冷型冷凝器铜管铝翅片换热器(上出风形式)
电源 380V50HZ12kW max15kW max20kW max29kW max42kW max58kW max84kW max
水冷尺寸cm55*95*17555*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185145*205*205
风冷尺寸cm55*95*17555*95*17570*100*17580*120*185100*150*185  
重量250kg280kg320kg360kg620kg890kg1300kg
选配220V 60HZ三相  400V 50HZ三相  440V 60HZ三相
选配温度扩展到-40℃~+135℃
选配更高精度控制温度、流量、压力
选配自动加注防冻液系统
选配自动液体回收系统

 

半导体温度测试系统Chiller,测试

半导体温度测试系统Chiller,测试

  IC测试贯穿芯片制造的全流程,对保证芯片的性能和稳定性意义重大,测试独立化不仅有助于其专业性的提升,更可将芯片设计、制造中的存在问题及时分析反馈,减少产能浪费,有效降低生产成本并提升效率。

IC测试程序繁琐,要求很高。晶圆测试和成品测试本质上都是集成电路的电学性能测试,包括芯片的电特性、电学参数和电路功能,其中功能是器件的行为(能力),特性是器件行为的表现,而特性参数是器件的主要特征。因此,电性能测试就是对集成电路的电特性、电参数和功能在不同条件下进行的检验。此外,在IC测试的过程中还会相应地采取一系列测试规范以提高集成电路设计、工艺控制和使用水平,具体包括特性规范、生产规范、用户规范和寿命终结规范,分别对应芯片工作条件的容许限度和电路性能达标的评价、生产过程中的在线测试、用户验收测试、可靠性评估。

元器件测试用设备

 

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