芯片测试高低温一体机，冷热装置厂家

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主要用于半导体测试中的温度测试模拟，具有宽温度定向和高温升降，温度范围-92℃~250℃，适合各种测试要求.LNEYA致力于解决了电子元器件中温度控制滞后的问题，超高温冷却技术可以直接从300℃冷却。

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　　元器件高低温测试机提醒，在电子元器件的研制阶段。失效分折可纠正设计和研制中的错误，缩短研制周期；在电子器件的生产，测试和试用阶段，失效分析可找出电子元器件的失效原因和引起电子元件失效的责任方。根据失效分析结果，元器件生产厂改进器件的设计和生产工艺，元器件使用方改进电路板设汁，改进元器件和整机的测试，试验条件及程序，甚至以此更换不合格的元器件供货商。因而，失效分析对加快电子元器件的研制速度，提高器件和整机的成品率和可靠性有重要意义。

　　芯片高低温测试机电子元器件测试系统以其优良的软硬件性能和完善的服务在航天、航空、电子、邮电、半导体、核工业、兵器等行业得到广泛的应用。用户单位包括从事整机研制和生产的研究所和企业，包括从事半导体器件研制和生产的研究所和企业，包括专业从事电子元器件测试筛选的测试中心，也包括一些外资公司和企业。因而创造了良好的经济效益和社会效益。

目前，无锡冠亚利用制冷加热动态控温系统还在针对电子元器件行业的测试工作不断开发新的产品，为我国的电子元器件测试行业做出发展。