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半导体芯片高低温测试机，制冷加热循环器

简要描述：半导体芯片高低温测试机，制冷加热循环器的典型应用：
适用于电子元器件的温度控制需求。 在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中，IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度（-45℃至+ 250℃）下的电子冷热测试和其他环境测试模拟。

  • 产品型号：TES-4525
  • 厂商性质：生产厂家
  • 更新时间：2023-12-31
  • 访  问  量：620
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详情介绍
品牌LNEYA/无锡冠亚价格区间面议
产地类别国产应用领域化工,电子,制药

半导体芯片高低温测试机，制冷加热循环器

主要用于半导体测试中的温度测试模拟，具有宽温度定向和高温升降，温度范围-92℃~250℃，适合各种测试要求.LNEYA致力于解决了电子元器件中温度控制滞后的问题，超高温冷却技术可以直接从300℃冷却。

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半导体芯片高低温测试机，制冷加热循环器

　　无锡冠亚芯片高低温测试机是针对电子元器件行业测试所推出的，那么，这类芯片高低温测试机适用于那些行业呢？

　　经过无锡冠亚的努力，其开发生产的芯片高低温测试机TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型号可以用于中小规模数字集成电路逻辑功能及静态直流参数测试，在微弱电流测试方面有良好的特性；用于二管、三管、VMOS、光电搞合器、可控硅等各种半导体分立器件进行参数测试，测试原理符合国标及军标要求，功率参数采用300uS脉冲测试，并采用数据、图形双重显示。

 

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