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微处理器芯片测试装置chiller常见故障

 更新时间:2021-01-22 点击量:1365

  在制冷行业中分为风冷式半导体芯片高低温测试chiller和水冷式半导体芯片高低温测试chiller两种,根据压缩机又分为螺杆式半导体芯片高低温测试chiller、涡旋式半导体芯片高低温测试chiller、离心式半导体芯片高低温测试chiller

 微处理器芯片测试装置chiller

  在温度控制上分为低温工业冷水机和常温冷水机,常温机组温度一般控制在0-35度范围内。低温机组温度控制一般在0度至-100度左右。

  半导体芯片高低温测试chiller的开、停机顺序要保证设备主机启动后能正常运行,须保证:冷凝器散热良好,否则会因冷凝温度及对应的冷凝压力过高,使半导体芯片高低温测试chiller高压保护器件动作而停车,甚至导致故障。

  蒸发器中冷水应循环流动,否则会因冷水温度偏低,导致冷水温度保护器件动作而停车,或因蒸发温度及对应的蒸发压力过低,是半导体芯片高低温测试chiller的低压保护器件动作而停车,甚至导致蒸发器中冷水结冰而损坏设备。因此,半导体芯片高低温测试chiller的开机顺序为:冷却塔风机开、冷却水泵开、冷水泵开、半导体芯片高低温测试chiller开半导体芯片高低温测试chiller的停机顺序为:半导体芯片高低温测试chiller停、冷却塔风机停、冷却水泵停、冷水泵停。

  停机时,半导体芯片高低温测试chiller应在下班前半小时关停,冷水泵下班后再关停,有利于节省能源,同时避免故障停机,保护机组。运行制冷循环前,应确认制热循环管道阀门已全部关闭。

以上就是关于半导体芯片高低温测试chiller的维修保养和注意事项的相关讲解,大家如果还有什么不明白的地方,可以关注冠亚制冷!(本文来源网络,如有侵权,请联系删除。)

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