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光通信模块高低温测试chiller维护说明

 更新时间:2021-01-22 点击量:1053

  微处理器芯片测试装置chiller这类工作量大的制冷机器消耗也大,若长期使用,出现小问题不好好处理就会酿成大矛盾,比方说出现微处理器芯片测试装置chiller内压缩机系统回油困难、蒸发温度不正常、排气温度过高、液击等。下面小编带领大家来认识一下啊关于微处理器芯片测试装置chiller制冷系统常常出现的故障问题以及引起故障的原因有哪些吧!

 光通信模块高低温测试chiller维护说明

  微处理器芯片测试装置chiller制冷系统的排气温度过高:

  微处理器芯片测试装置chiller的回气温度高(吸气过热度大)、压缩比高、冷凝压力高、冷冻油冷却不行,主要是因为电机加热量过大的制冷剂。

  微处理器芯片测试装置chiller制冷系统中的压缩机液击:

  微处理器芯片测试装置chiller制冷系统吸气温度过高,即过热度过大,导致微处理器芯片测试装置chiller组压缩机排气温度升高。吸气温度过低,制冷剂在蒸发器中蒸发不*,降低了蒸发器换热效率,湿蒸汽的吸入会形成压缩机液击。

  微处理器芯片测试装置chiller制冷系统中的吸气温度过低:

  微处理器芯片测试装置chiller制冷系统中的吸气温度过低主要是因为制冷剂充注量太多;膨胀阀开启度过大。

  微处理器芯片测试装置chiller制冷系统的回油困难:

  微处理器芯片测试装置chiller制冷系统的回油困难主要是因为压缩机频繁启动导致回气管内来不及形成稳定的高速气流,润滑油被迫留在管路内。回油少于奔油,压缩机就会缺油。运转时间越短,管线越长,系统越复杂,回油问题就越突出。

以上就是关于微处理器芯片测试装置chiller制冷系统的常见故障以及引起的原因讲解,大家如果还有其他想要了解的问题可以找冠亚制冷!(本文来源网络,如有侵权,请联系删除。)

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